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Norm [ZURÜCKGEZOGEN] 1992 Artikel ist nicht bestellbar

ASTM E 1161:1992

Verfahren zur Durchstrahlungsprüfung von Halbleitern und Bauteilen der Elektronik

Englischer Titel
Test Method for Radiologic Testing of Semiconductors and Electronic Components
Ausgabedatum
1992
Originalsprachen
Englisch
Ausgabedatum
1992
Originalsprachen
Englisch

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Änderungsvermerk

Dokument wurde ersetzt durch: ASTM E 1161:2009 .

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