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Norm [AKTUELL]

ASTM E 1438:2011

Richtlinie für die Messung von Schnittstellenbreiten bei der Aufstäubungstiefenprofilierung mit Hilfe der Sekundärionen-Massenspektroskopie

Englischer Titel
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
Ausgabedatum
2011 reapproved: 2019
Originalsprachen
Englisch
Seiten
3

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Normen-Ticker 1
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Ausgabedatum
2011 reapproved: 2019
Originalsprachen
Englisch
Seiten
3
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/E1438-11R19

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ICS
29.045
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/E1438-11R19
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