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Norm [AKTUELL]

ASTM F 1192:2011

Richtlinie für die Messung von Einzelereigniserscheinungen, die durch Schwerionenstrahlung von Halbleitergeräten induziert wurden

Englischer Titel
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
Ausgabedatum
2011 reapproved: 2018
Originalsprachen
Englisch
Seiten
11

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Normen-Ticker 1
1

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Ausgabedatum
2011 reapproved: 2018
Originalsprachen
Englisch
Seiten
11
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/F1192-11R18

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ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/F1192-11R18
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