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ASTM F 1467:2011

Anwendung eines Röntgenstrahlprüfgerätes (etwa gleichwertig 10-keV-Photonen) für die Prüfung der Wirkungen ionisierender Strahlung auf Bauelemente der Mikroelektronik

Englischer Titel
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (≈10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
Ausgabedatum
2011
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Englisch
Ausgabedatum
2011
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Englisch

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