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Norm 2011

ASTM F 996:2011

Prüfverfahren zur Aufteilung einer durch Oxidhaftlöcher und Schnittstellenzustände bedingten gesamtdosisinduzierten MOSFET-Schwellenspannungsverschiebung in Komponenten mit Hilfe der Teilschwellenwerttechnik

Englischer Titel
Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics
Ausgabedatum
2011 reapproved: 2018
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