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Norm 2003-06-19

BS EN 60749-16:2003-06-19

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Nachweis des Teilchen-Aufprallgeraeusches (PIND)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Particle impact noise detection (PIND)
Ausgabedatum
2003-06-19
Originalsprachen
Englisch

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