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Norm [AKTUELL]

BS EN 60749-33:2004-06-22

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Beschleunigte Verfahren fuer Feuchtebestaendigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Ausgabedatum
2004-06-22
Originalsprachen
Englisch
Seiten
10

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