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Norm [AKTUELL]

BS EN 62373:2006-09-29

Stabilitaetspruefung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung fuer Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

Englischer Titel
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Ausgabedatum
2006-09-29
Originalsprachen
Englisch

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