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Norm 2019-02-08

BS IEC 63068-2:2019-02-08

Englischer Titel
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using optical inspection
Ausgabedatum
2019-02-08
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Englisch

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