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Norm [ZURÜCKGEZOGEN] 2008-07

DIN 51096:2008-07

Prüfung keramischer Roh- und Werkstoffe - Direkte Bestimmung der Massenanteile von Spurenverunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels optischer Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV)

Englischer Titel
Testing of ceramic raw and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) and electrothermal vaporisation (ETV)
Ausgabedatum
2008-07
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Deutsch

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Einführungsbeitrag

Diese Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Verunreinigungen Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V und Zr in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid fest. Das Verfahren gilt, in Abhängigkeit von den Haupteinflussgrößen Element, Wellenlänge, Plasmabedingungen und Einwaage, für Massenanteile der vorgenannten Verunreinigungen von etwa 0,1 mg/kg bis etwa 1 000 mg/kg, nach Prüfung auch von 0,001 mg/kg bis etwa 5 000 mg/kg.
Die Norm wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-02-64 AA "Chemische Analyse von nichtoxidischen keramischen Roh- und Werkstoffen" des NMP erarbeitet.

Inhaltsverzeichnis
Änderungsvermerk

Dokument wurde ersetzt durch: DIN EN 15991:2011-04 .

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