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DIN 58002:2001-12

Integrierte Optik - Nahfeldmessverfahren für einmodige optische Chipkomponenten

Englischer Titel
Integrated optics - Near-field-measurement for single-mode optical chip components
Ausgabedatum
2001-12
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
10

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Ausgabedatum
2001-12
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
10
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9196781

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Inhaltsverzeichnis
ICS
31.260
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9196781

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