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Norm [AKTUELL]
DIN EN 1071-10:2009-10
Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 10: Bestimmung der Schichtdicke mittels Querschliff; Deutsche Fassung EN 1071-10:2009
- Englischer Titel
- Advanced technical ceramics - Methods of test for ceramic coatings - Part 10: Determination of coating thickness by cross sectioning; German version EN 1071-10:2009
- Ausgabedatum
- 2009-10
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- Ausgabedatum
- 2009-10
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/1537659
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Diese Norm legt ein Messverfahren zur Bestimmung der Schichtdicke keramischer Beschichtungen fest, bei dem ein metallographisch angefertigter Querschliff der Beschichtigung mit einem kalibrierten Licht- oder Rasterelektronenmikroskop untersucht wird. Sie lehnt sich eng an EN ISO 9220 an, jedoch wurden alle erforderlichen Anpassungen und Aktualisierungen vorgenommen, um keramischen Beschichtungen und der derzeitig besten Praxis zu entsprechen.
Die Norm wurde von der Arbeitsgruppe "Prüfung von keramischen Beschichtungen" des CEN/TC 184 "Hochleistungskeramik" erarbeitet, dessen Sekretariat vom BSI (Großbritannien) gehalten wird. Zur prEN 1071-10 gibt es kein Arbeitsgremium im DIN, da seitens der deutschen Fachöffentlichkeit kein Interesse an diesem Normungsthema bekundet wurde.
Dieses Dokument ersetzt DIN CEN/TS 1071-10:2004-10 .
Gegenüber DIN CEN/TS 1071-10:2004-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Inhalt redaktionell überarbeitet.