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Norm [AKTUELL]
DIN EN 60749-11:2003-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren (IEC 60749-11:2002); Deutsche Fassung EN 60749-11:2002
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002
- Ausgabedatum
- 2003-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- Ausgabedatum
- 2003-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/9449802
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ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9449802
Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .
Änderungsvermerk
-vollstandige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 1.2, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentliche werde kann.
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