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Norm 2003-09

DIN EN 60749-18:2003-09

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis) (IEC 60749-18:2002); Deutsche Fassung EN 60749-18:2003

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002); German version EN 60749-18:2003
Ausgabedatum
2003-09
Originalsprachen
Deutsch
Hinweis
Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9503387

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