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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60749-18:2003-09
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis) (IEC 60749-18:2002); Deutsche Fassung EN 60749-18:2003
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002); German version EN 60749-18:2003
- Ausgabedatum
- 2003-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- Ausgabedatum
- 2003-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/9503387
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ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9503387
Ersatzvermerk
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN IEC 60749-18:2020-02 .
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