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Norm 2010-04

DIN EN 60749-20:2010-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20: Beständigkeit kunststoffverkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente (SMD) gegenüber der kombinierten Beanspruchung von Feuchte und Lötwärme (IEC 60749-20:2008); Deutsche Fassung EN 60749-20:2009

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2008); German version EN 60749-20:2009
Ausgabedatum
2010-04
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Deutsch

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Ausgabedatum
2010-04
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Deutsch
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/1570070

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Einführungsbeitrag

Bei kunststoffverkappten oberflächenmontierbaren Halbleiterbauelementen (SMD; en: Surface Mounted Device) können sowohl Risse im Bauelementegehäuse (Package-Cracks) als auch elektrische Fehler entstehen, wenn die Wärmebeanspruchung, die beim Lötprozess auftritt, ein Ansteigen des Wasserdampfdrucks der während der Lagerung im SMD absorbierten Feuchte verursacht. Dieser Teil der DIN EN 60749 legt ein Verfahren fest zum Bewerten der Lötwärmebeständigkeit von Halbleiterbauelementen, die als kunststoffverkappte oberflächenmontierbare Bauelemente montiert werden. Gegenüber DIN EN 60749-20:2003-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Anpassung einiger Klassifikationen der DIN EN 60749-20 an die in IPC/JEDEC J-STD-020C verwendeten Klassen; b) Verweis auf DIN EN 60749-35 anstelle des Anhang A der DIN EN 60749-20:2003; c) Überarbeitung bezüglich bleifreier Lötverbindungen; d) Berichtigung einiger Fehler in DIN EN 60749-20:2003; e) editorielle Überarbeitung der Deutschen Fassung. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

DOI
https://dx.doi.org/10.31030/1570070
Änderungsvermerk

Diese Norm ersetzt DIN EN 60749-20:2003-12 .

Folgende Änderungen wurden vorgenommen:

Gegenüber DIN EN 60749-20:2003-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Anpassung einiger Klassifikationen der DIN EN 60749-20 an die in IPC/JEDEC J-STD-020C verwendeten Klassen; b) Verweis auf DIN EN 60749-35 anstelle auf Anhang A der DIN EN 60749-20:2003; c) Überarbeitung bezüglich bleifreier Lötverbindungen; d) Berichtigung einiger Fehler in DIN EN 60749-20:2003; e) redaktionelle Überarbeitung der Deutschen Fassung.

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