DIN EN 60749-23:2004-10

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004); German version EN 60749-23:2004
Ausgabedatum: 2004-10
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 11

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