Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!
Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
DIN Media Kundenservice
Telefon +49 30 58885700-70
Norm [AKTUELL]
DIN EN 60749-25:2004-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel (IEC 60749-25:2003); Deutsche Fassung EN 60749-25:2003
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003); German version EN 60749-25:2003
- Ausgabedatum
- 2004-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- Ausgabedatum
- 2004-04
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/9536564
Produktinformationen auf dieser Seite:
Schnelle Zustellung per Download oder Versand
Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung
Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung
ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9536564
Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Aufteilung der Norm in einzelne Prüfnormen; b) vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 1.1, enthaltenen Prüfung. Dies betrifft sowohl das Verfahren als auch die Prüfdurchführung.
Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...