Liebe Kundinnen, liebe Kunden,
Am Montag ist es soweit:
Aus Beuth Verlag wird DIN Media.
Mehr über unsere Umbenennung und die (Hinter)Gründe erfahren Sie hier.
Wir bitten um Verständnis dafür, dass wir am Sonntag daher kurzzeitig nicht erreichbar sein werden. Zudem können am Sonntag keine Bestellungen aufgegeben werden.
Ab Montag sind wir unter neuem Namen für Sie da!
Herzliche Grüße
Ihr Beuth Verlag
Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
Norm [AKTUELL]
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In diesem Teil der Norm DIN EN 60749 ist ein Verfahren zur Messung der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern für die Fälle festgelegt, wenn diese Bauelemente einer Beanspruchung mit hochenergetischen Teilchen wie der Alpha-Strahlung ausgesetzt sind. Zwei Prüfarten sind beschrieben:
Für diesen Teil ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" zuständig.