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Norm [ZURÜCKGEZOGEN] 2003-04

DIN EN 60749-4:2003-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST) (IEC 60749-4:2002); Deutsche Fassung EN 60749-4:2002

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002
Ausgabedatum
2003-04
Originalsprachen
Deutsch
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Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.

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