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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60749-5:2003-09
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2003); Deutsche Fassung EN 60749-5:2003
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003
- Ausgabedatum
- 2003-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- Ausgabedatum
- 2003-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
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Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN 60749-5:2018-01 .
Änderungsvermerk
vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 4B, enthaltenen Prüfung. Dies betrifft sowohl das Verfahren als auch die Prüfdurchführung; insbesondere die Art der elektrischen Beanspruchung wurde neu festgelegt.
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