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Norm [ZURÜCKGEZOGEN] 2003-04

DIN EN 60749-6:2003-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2002); Deutsche Fassung EN 60749-6:2003

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003
Ausgabedatum
2003-04
Originalsprachen
Deutsch
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Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.

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Folgende Änderungen wurden vorgenommen:

- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 2, enthaltenen Prüfung, so dass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.

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