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Norm 2012-04

DIN EN 61967-8:2012-04;VDE 0847-21-8:2012-04

VDE 0847-21-8:2012-04

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 8: Messung der abgestrahlten Aussendungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 61967-8:2011); Deutsche Fassung EN 61967-8:2011

Englischer Titel
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (IEC 61967-8:2011); German version EN 61967-8:2011
Ausgabedatum
2012-04
Originalsprachen
Deutsch

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Einführungsbeitrag

Mit dem in diesem Teil der Normenreihe DIN EN 61967 enthaltenen Messverfahren wird ein definiertes Verfahren mit einer IC-Streifenleitung zur Messung der von einer integrierten Schaltung (IC) abgestrahlten elektromagnetischen Aussendung im Frequenzbereich von 150 kHz bis 3 GHz beschrieben. Die zu bewertende integrierte Schaltung ist dabei auf einer EMV-Prüfleiterplatte befestigt und befindet sich zwischen dem aktiven Leiter und der Massefläche der IC-Streifenleiteranordnung. Dieses Messverfahren beruht auf dem Messprinzip mit TEM-Wellenleiter nach IEC 61000-4-20. Das Messverfahren erlaubt es, ein quantitatives Maß der HF-Abstrahlungen von ICs zu Vergleichszwecken oder anderen Zwecken bereitzustellen. Für die Messung der HF-Abstrahlung von integrierten Schaltungen wird ein Streifenleiter-Aufbau verwendet. Die IC-Streifenleitung ist eine Sonderart der Übertragungsleitung, die eine TEM-Welle ausbildet, und bietet ein breitbandiges Messverfahren für die Störfestigkeit eines Prüflings gegen Felder, die innerhalb der IC-Streifenleitung erzeugt werden, oder auch für abgestrahlte Aussendungen eines Prüflings, der innerhalb der IC-Streifenleitung untergebracht ist. Damit wird die Anwendung konventioneller Antennen mit ihren arteigenen Messeinschränkungen hinsichtlich der Bandbreite, nichtlinearem Phasengang, Richtwirkung und Polarisation vermieden. Dieser Teil von DIN EN 61967 ist in Verbindung mit DIN EN 61967-1 anzuwenden. Zukünftige Normen dieser Reihe tragen den angegebenen neuen allgemeinen Titel und werden als Messvorschrift für EMV in die entsprechende Reihe mit der VDE-Klassifikation 0847-21 aufgenommen. Die Titel der bestehenden Normen dieser Reihe werden mit ihrer nächsten Ausgabe aktualisiert und diese werden dann ebenfalls mit der VDE-Klassifikation 0847-22 in das VDE-Vorschriftenwerk aufgenommen. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

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