Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Donnerstag von 08:00 bis 17:00 Uhr

Freitag von 08:00 bis 16:00 Uhr

Kundenservice National
Telefon +49 30 2601-1331
Fax +49 30 2601-1260

Norm 2007-01

DIN EN 62373:2007-01

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006

Englischer Titel
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006
Ausgabedatum
2007-01
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Deutsch

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 68,30 EUR inkl. MwSt.

ab 57,39 EUR exkl. MwSt.

Kaufoptionen

PDF-Download
  • 68,30 EUR

Versand (3-5 Werktage)
  • 74,40 EUR

Abo 1
1

Erfahren Sie mehr zu Abonnements-Lösungen für Normen

Ausgabedatum
2007-01
Barrierefreiheit
Originalsprachen
Deutsch
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9778546

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9778546
Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...