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Norm [AKTUELL]
DIN EN IEC 60749-13:2018-10
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre (IEC 60749-13:2018); Deutsche Fassung EN IEC 60749-13:2018
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2018); German version EN IEC 60749-13:2018
- Ausgabedatum
- 2018-10
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- Ausgabedatum
- 2018-10
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 15
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/2869253
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Die Eignung von Halbleiterbauelementen für unterschiedliche Anwendungen ist auch von den klimatischen und mechanischen Umgebungseinflüssen oder anderen Umgebungsbedingungen abhängig, denen diese Bauelemente ausgesetzt werden. Die Normen der Reihe DIN EN 60749 enthalten eine Vielzahl von unterschiedlichen Prüfverfahren hierzu. In diesem Teil der Normenreihe wird das Prüfverfahren mit Salzatmosphäre zur Bestimmung der Beständigkeit von Halbleiterbauelementen gegen Korrosion festgelegt. Es ist ein beschleunigtes Prüfverfahren, welches die Auswirkungen einer rauen Meeresküstenatmosphäre auf allen exponierten Oberflächen nachbildet. Es ist nur für Bauelemente anwendbar, die für den Einsatz in einer Meeresumgebung vorgesehen sind. Das Prüfverfahren mit Salzatmosphäre wird als zerstörend betrachtet. Mit dieser Überarbeitung der DIN EN 60749-13:2003 werden die vorgesehenen Prüfverfahren an das Verfahren 1009.8 "Salzatmosphäre (Korrosion)" aus MIL-STD-883J angepasst. Somit wird nun die Ausrichtung der unterschiedlichen Arten von Bauelementen in der Prüfkammer für eine ordnungsgemäße Prüfung vorgegeben und mit entsprechenden Bildern erläutert. Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749-13:2003-04 .
Gegenüber DIN EN 60749-13:2003-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Ergänzung von "Luft- oder Inertgastrockner" in Abschnitt 4 "Prüfeinrichtung"; b) Festlegungen zur Vorbehandlung und Pflege der Prüfeinrichtung unter 5.1 eingeführt; c) detaillierte Beschreibung der Ausrichtung der unterschiedlichen Arten von Bauelementen ergänzt; d) die Fehlerkriterien werden nun unterschieden nach Endprodukten und Gehäuseelementen; e) vollständige Überarbeitung der Festlegungen der Norm, die nun mit den Festlegungen in MIL-STD-883J, Verfahren 1009.8 "Salt Atmosphere (Corrosion)" übereinstimmen; f) Anpassung an die redaktionellen Erfordernisse nach den aktuellen Richtlinien zur Gestaltung von IEC-Normen; g) Überarbeitung der deutschen Übersetzung.