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Norm 2017-12

DIN EN ISO 18563-2:2017-12

Zerstörungsfreie Prüfung - Charakterisierung und Verifizierung der Ultraschall-Prüfausrüstung mit Phased-Arrays - Teil 2: Prüfköpfe (ISO 18563-2:2017); Deutsche Fassung EN ISO 18563-2:2017

Englischer Titel
Non-destructive testing - Characterization and verification of ultrasonic phased array equipment - Part 2: Probes (ISO 18563-2:2017); German version EN ISO 18563-2:2017
Ausgabedatum
2017-12
Originalsprachen
Deutsch

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Ausgabedatum
2017-12
Originalsprachen
Deutsch
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2629133

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Einführungsbeitrag

Dieses Dokument (EN ISO 18563-2:2017) wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 135 "Non-destructive testing" in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 138 "Zerstörungsfreie Prüfung" erarbeitet, dessen Sekretariat von AFNOR gehalten wird.
Das zuständige nationale Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-23 AA "Ultraschallprüfung" im Normenausschuss Materialprüfung bei DIN.
Dieses Dokument gilt für lineare Phased-Array-Prüfköpfe für die zerstörungsfreie Prüfung mit Ultraschall, die entweder für die Kontakttechnik (mit oder ohne Vorsatzkeil) oder für die Tauchtechnik vorgesehen sind und Mittenfrequenzen von 0,5 MHz bis 10 MHz aufweisen.
In diesem Dokument werden Abnahmeprüfungen nach der Herstellung von Phased-Array-Prüfköpfen festgelegt, deren Ergebnisse zur Charakterisierung der Prüfköpfe dienen. Es werden sowohl die Vorgehensweise als auch Zulässigkeitskriterien festgelegt.
In diesem Dokument sind keine Verfahren und Zulässigkeitskriterien zur Charakterisierung der Leistung eines Phased-Array-Ultraschallgeräts oder der Leistung eines kompletten Phased-Array-Prüfsystems beschrieben. Diese sind in EN ISO 18563-1 und in EN ISO 18563-3 beschrieben.

Inhaltsverzeichnis
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2629133
Änderungsvermerk

Diese Norm ersetzt DIN EN 16392-2:2014-06 .

Folgende Änderungen wurden vorgenommen:

Gegenüber DIN EN 16392-2:2014-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Präzisierung des Anwendungsbereiches; b) Aktualisierung der normativen Verweisungen; c) Überarbeitung des Begriffs 3.2 und Ergänzung des Begriffs 3.3; d) Aufnahme eines neuen Abschnitts 4 mit Symbolen und Abkürzungen; e) Überarbeitung der Abschnitte 5 und 6 und Ergänzung der Durchführung bei Sensorarrays vom Typ "Daisy" in Abschnitt 7; f) Überarbeitung des Abschnitts 8 und Ergänzung von zulässigen Kriterien bei Matrix-Array-Prüfköpfen und linearen Array-Prüfköpfen (8.5.3) sowie Ergänzung der Schwankung der relativen Empfindlichkeit bei Matrix-Array-Prüfköpfen (8.3.3.3) und Anzahl der Elemente "außerhalb der Spezifikation" (8.7); g) redaktionelle Überarbeitung.

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