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Norm [ZURÜCKGEZOGEN]
DIN IEC 60749:1987-09
Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Identisch mit IEC 60749, Ausgabe 1984
- Englischer Titel
- Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; identical with IEC 60749, edition 1984
- Ausgabedatum
- 1987-09
- Originalsprachen
- Deutsch
- Ausgabedatum
- 1987-09
- Originalsprachen
- Deutsch
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Diese Norm ersetzt DIN 41794-1:1972-06 .
Dokument wurde ersetzt durch: DIN EN 60749-20:2010-04 , DIN EN 60749:2000-02 , DIN EN 60749:2001-09 , DIN EN 60749:2002-09 , DIN EN 60749-1:2003-12 , DIN EN 60749-2:2003-04 , DIN EN 60749-3:2003-04 , DIN EN 60749-4:2003-04 , DIN EN 60749-5:2003-09 , DIN EN 60749-6:2003-04 , DIN EN 60749-7:2003-04 , DIN EN 60749-8:2003-12 , DIN EN 60749-9:2003-04 , DIN EN 60749-10:2003-04 , DIN EN 60749-11:2003-04 , DIN EN 60749-12:2003-04 , DIN EN 60749-13:2003-04 , DIN EN 60749-14:2004-07 , DIN EN 60749-15:2003-10 , DIN EN 60749-19:2003-10 , DIN EN 60749-20:2003-12 , DIN EN 60749-21:2005-06 , DIN EN 60749-22:2003-12 , DIN EN 60749-25:2004-04 , DIN EN 60749-31:2003-12 , DIN EN 60749-32:2003-12 , DIN EN 60749-36:2003-12 .