Liebe Kundinnen, liebe Kunden,
Am Montag ist es soweit:
Aus Beuth Verlag wird DIN Media.
Mehr über unsere Umbenennung und die (Hinter)Gründe erfahren Sie hier.
Wir bitten um Verständnis dafür, dass wir am Sonntag daher kurzzeitig nicht erreichbar sein werden. Zudem können am Sonntag keine Bestellungen aufgegeben werden.
Ab Montag sind wir unter neuem Namen für Sie da!
Herzliche Grüße
Ihr Beuth Verlag
Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
Norm [AKTUELL]
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Dieses Dokument beschreibt Verfahren zur Messung der mittleren Korngröße anhand eines zweidimensionalen polierten Querschliffs mittels Elektronenrückstreubeugung (EBSD, en: Electron backscatter diffraction). Dazu ist die Messung der Orientierung, der Fehlorientierung und eines Faktors für die Qualität der Beugungsmuster als eine Funktion der Position in der kristallinen Probe erforderlich. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-18 AA "Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).
Dieses Dokument ersetzt DIN ISO 13067:2015-12 .
Gegenüber DIN ISO 13067:2015-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Begriffe "3D-Korngröße", "mittlere Korngröße" und "sektionale Korngröße" eingeführt; b) Verfahren der Auswahl der abzubildenden Flächen und Kartengrößen abgeändert; c) Datenbereinigung abgeändert; d) Verfahren zur Berechnung der mittleren Korngröße hinzugefügt; e) Darstellung der Daten abgeändert; f) Verfahren zur Bestimmung der Messunsicherheit abgeändert; g) Anhang A zur Korngrößenmessung abgeändert; h) Anhang B zur Vergleichpräzision hinzugefügt.
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