Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
Norm [AKTUELL]
DIN VDE 0278-629-2:2009-07
VDE 0278-629-2:2009-07
Prüfanforderungen für Kabelgarnituren für Starkstromkabel mit einer Nennspannung von 3,6/6(7,2) kV bis 20,8/36(42) kV - Teil 2: Kabel mit massegetränkter Papierisolierung; Deutsche Fassung HD 629.2 S2:2006 + A1:2008
- Englischer Titel
- Test requirements on accessories for use on power cables of rated voltage from 3,6/6(7,2) kV up to 20,8/36(42) kV - Part 2: Cables with impregnated paper insulation; German version HD 629.2 S2:2006 + A1:2008
- Ausgabedatum
- 2009-07
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 33
- Ausgabedatum
- 2009-07
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 33
Produktinformationen auf dieser Seite:
Schnelle Zustellung per Download oder Versand
Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung
Diese Norm legt die Anforderungen für Typprüfungen an Kabelgarnituren in Verbindung mit massegetränkten Papierkabeln, wie in HD 621 beschrieben, fest. Nachdem diese Prüfung erfolgreich bestanden wurde, braucht diese nicht wiederholt werden, es sei denn, Änderungen in Werkstoff, Konstruktion oder Herstellprozess, welche die Betriebseigenschaften beeinflussen können, wurden vorgenommen. Mit der Änderung A1, die neu eingearbeitet wurde, wird eine sicherheitsrelevante Lücke geschlossen. Aufgenommen wurde die Erweiterbarkeit der Gültigkeit auf kleinere U0 bei geschirmten steck- oder schraubbaren Kabelanschlüssen durch die Prüfung der Wiedererkennbarkeit des Fehlers bei kleinstem U0. Zuständig ist das UK 411.1 "Starkstromkabel" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Dieses Dokument ersetzt DIN VDE 0278-629-2:2007-05; VDE 0278-629-2:2007-05 .
Gegenüber DIN VDE 0278-629-2 (VDE 0278-629-2):2007-05 wurde folgende Änderung vorgenommen: a) mit der Änderung A1, die neu eingearbeitet wurde, wird eine sicherheitsrelevante Lücke geschlossen. Aufgenommen wurde die Erweiterbarkeit der Gültigkeit auf kleinere U0 bei geschirmten steck- oder schraubbaren Kabelanschlüssen durch die Prüfung der Wiedererkennbarkeit des Fehlers bei kleinstem U0.