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Norm [AKTUELL]

IEEE 63003:2015;IEC 63003:2015;IEEE 1505.1:2015

IEC 63003:2015 IEEE 1505.1:2015

Englischer Titel
IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
Ausgabedatum
2015
Originalsprachen
Englisch
Seiten
175

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