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Liebe Kundinnen, liebe Kunden,

Am Montag ist es soweit:

Aus Beuth Verlag wird DIN Media.

Mehr über unsere Umbenennung und die (Hinter)Gründe erfahren Sie hier.

Wir bitten um Verständnis dafür, dass wir am Sonntag daher kurzzeitig nicht erreichbar sein werden. Zudem können am Sonntag keine Bestellungen aufgegeben werden.

Ab Montag sind wir unter neuem Namen für Sie da!

Herzliche Grüße
Ihr Beuth Verlag

Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

Beuth Kundenservice
Telefon +49 30 58885700-70

Norm [AKTUELL]

IEEE C 63.18:2014

Englischer Titel
American National Standard Recommended Practice for an On-Site, Ad Hoc Test Method for Estimating Electromagnetic Immunity of Medical Devices to Radiated Radio-Frequency (RF) Emissions from RF Transmitters
Ausgabedatum
2014
Originalsprachen
Englisch
Seiten
64

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Ausgabedatum
2014
Originalsprachen
Englisch
Seiten
64

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