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Norm 2005-06-01

NF C96-022-30:2005-06-01;NF EN 60749-30:2005-06-01

NF EN 60749-30:2005-06-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Ausgabedatum
2005-06-01
Originalsprachen
Französisch

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Dieser Artikel wurde geändert durch: NF C96-022-30/A1:2011-11-01;NF EN 60749-30/A1:2011-11-01 .

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