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Norm 2016-12-23

NF C96-022-44:2016-12-23;NF EN 60749-44:2016-12-23

NF EN 60749-44:2016-12-23

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Ausgabedatum
2016-12-23
Originalsprachen
Französisch

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