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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-15:2011-08-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 15: Beständigkeit gegen Löttemperatur bei Bauelementen zur Durchsteckmontage (IEC 60749-15:2010) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010) (german version)
Ausgabedatum
2011-08-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
9

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