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Norm 2004-01-01

OEVE/OENORM EN 60749-31:2004-01-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 31: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Selbstentzündung) (IEC 60749-31:2002 + Corrigendum 1:2003)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) (IEC 60749-31:2002 + Corrigendum 1:2003)
Ausgabedatum
2004-01-01
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Deutsch

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Kurzreferat
Dieser Teil der Norm ist auf alle Halbleiterbauelemente (Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen) anwendbar. Zweck dieses Prüfverfahrens ist die Feststellung, ob sich das Bauelement durch eine Eigenerwärmung als Folge übermäßiger Beanspruchung entzündet.
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