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Norm 2011-07-01

OEVE/OENORM EN 60749-34:2011-07-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung (IEC 60749-34:2010) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010) (german version)
Ausgabedatum
2011-07-01
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Deutsch

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