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Norm

OEVE/OENORM EN 60749-36:2004-01-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Gleichmäßiges Beschleunigen (IEC 60749-36:2003)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003)
Ausgabedatum
2004-01-01
Originalsprachen
Deutsch

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