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OEVE/OENORM EN 60749-42:2015-07-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 42: Lagerung bei Wärme und Feuchte (IEC 60749-42:2014) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014) (german version)
Ausgabedatum
2015-07-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12

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Normen-Ticker 1
1

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