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Norm 2002-11-01

OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)
Ausgabedatum
2002-11-01
Originalsprachen
Deutsch

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Kurzreferat
Diese Norm enthält für Halbleiterbauelemente (Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen) anwendbare Prüfverfahren, aus denen eine entsprechende Auswahl getroffen werden kann. Bei hohlraumfreien Bauelementen können zusätzliche Prüfverfahren erforderlich werden. Die Norm berücksichtigt, soweit möglich, die Normen der Reihe IEC 60068. Zweck dieser Norm sind einheitliche Vorzugs-Prüfverfahren mit Vorzugswerten für die Schärfegrade zur Beurteilung umgebungsabhängiger Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. Im Falle einer widersprüchlichen Festlegung in dieser Norm und in einer entsprechenden Spezifikation ist die letztere verbindlich.
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