OEVE/OENORM EN 62132-2:2011-08-01

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010) (deutsche Fassung)

Englischer Titel: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 62132-2:2010) (german version)
Ausgabedatum: 2011-08-01
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 26

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