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Norm [AKTUELL]

OVE EN 60749-5:2018-02-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2017) (deutsche Fassung)

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (german version)
Ausgabedatum
2018-02-01
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
12

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