Liebe Kundinnen, liebe Kunden,
es ist soweit:
Aus dem Beuth Verlag ist DIN Media geworden.
Mehr über unsere Umbenennung und die (Hinter)Gründe erfahren Sie hier.
Um unsere neue Website problemlos nutzen zu können, würden wir Sie bitten, Ihren Browser-Cache zu leeren.
Herzliche Grüße
DIN Media
Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
Technische Regel Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
Produktinformationen auf dieser Seite:
Schnelle Zustellung per Download oder Versand
Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung
Dieser Teil der IEC 62607 bietet ein Verfahren zur Bestimmung von magnetischen Verunreinigungen in Anoden-Nanomaterialien für elektrische Speichersysteme unter Einsatz von Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer (ICP-OES), einschließlich Prüfübersicht, Reagenzien, technische Vorrichtung, Prüfverfahren, Prüfergebnisse und Prüfbericht. Dieser Teil der IEC 62607 ist anwendbar zur Bestimmung des Gesamtgehaltes von magnetischen Verunreinigungen (Eisen, Cobalt, Chrom und Nickel) ) ≥ 0,02 mg/kg, der durch Magneten angezogen werden kann. Zuständig ist das DKE/K 141 "Nanotechnologie" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.