Liebe Kundinnen, liebe Kunden,
im Jahr unseres 100-jährigen Bestehens stellen wir uns als Teil der DIN-Gruppe für die Zukunft auf – mit einem neuen Namen.
Am 22. April 2024 ist es so weit:
Aus Beuth Verlag wird DIN Media.
Mehr über unsere Umbenennung und die (Hinter)Gründe erfahren Sie hier.
Herzliche Grüße
Ihr Beuth Verlag
Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr
Technische Regel [AKTUELL]
Produktinformationen auf dieser Seite:
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Diese DIN SPEC beschreibt Messverfahren zur Evaluierung des tribologischen Verhaltens von Gleitkontakten auf einer Skala von einigen Nanometern (nm) bis 10 Mikrometer (µm). Es werden Anleitungen zur Durchführung solcher Messungen gegeben. Weiterhin wird ein Leitfaden über den Einfluss der Messparameter auf das Prüfergebnis geliefert. Diese DIN SPEC umfasst Techniken mit aufgebrachen Lasten zwischen 50 µN und 100 mN. Diese DIN SPEC umfasst nicht schon existierende Raster-Sonden-Mikroskopie-Verfahren, wie Raster-Kraft-Mikroskopie oder Reibungskraft-Mikroskopie. Die DIN SPEC richtet sich an Prüflaboratorien. Sie gibt einen umfassenden Überblick über aktuelle Verfahren für nanotribologische Messungen und liefert Hinweise für ihre Anwendung. Für diese Norm ist das Gremium NA 062-08-17-02 UA "Prüfverfahren" des Arbeitsausschusses "Nanotechnologien" im DIN zuständig.