DIN SPEC 52407:2015-03

Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)

Englischer Titel: Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM)
Ausgabedatum: 2015-03
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 23
Verfahren: Fachbericht

Ausgabedatum: 2015-03
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 23
Verfahren: Fachbericht
DOI: https://dx.doi.org/10.31030/2296172

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Einführungsbeitrag

Diese DIN SPEC beinhaltet eine Methodensammlung zur sicheren und reproduzierbaren Präparation von eng verteilten Referenz-Nanopartikeln auf ebenen Flächen sowie deren Größenmessung und Auswertung.
Die beschriebenen Verfahren sind anwendbar auf die Präparation und Untersuchung einzelner oder an Ketten aneinander liegender Partikel sowie Monolagenschichten im Größenbereich unter 1 µm.
Für diese Norm ist das Gremium NA 062-08-17-02 UA "Prüfverfahren" im DIN zuständig.

Inhaltsverzeichnis

ICS

07.120

DOI

https://dx.doi.org/10.31030/2296172

Normen mitgestalten

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2028
Fax: +49 30 2601-42028

Ansprechpartner kontaktieren
Weitere Informationen

Lade Empfehlungen...