Standard [WITHDRAWN]
DIN IEC 60749:1987-09
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; identical with IEC 60749, edition 1984
- German title
- Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Identisch mit IEC 60749, Ausgabe 1984
- Publication date
- 1987-09
- Original language
- German
- Pages
- 18
- Publication date
- 1987-09
- Original language
- German
- Pages
- 18
Product information on this site:
Quick delivery via download or delivery service
All transactions are encrypted
This document replaces DIN 41794-1:1972-06 .
This document has been replaced by: DIN EN 60749-20:2010-04 , DIN EN 60749:2000-02 , DIN EN 60749:2001-09 , DIN EN 60749:2002-09 , DIN EN 60749-1:2003-12 , DIN EN 60749-2:2003-04 , DIN EN 60749-3:2003-04 , DIN EN 60749-4:2003-04 , DIN EN 60749-5:2003-09 , DIN EN 60749-6:2003-04 , DIN EN 60749-7:2003-04 , DIN EN 60749-8:2003-12 , DIN EN 60749-9:2003-04 , DIN EN 60749-10:2003-04 , DIN EN 60749-11:2003-04 , DIN EN 60749-12:2003-04 , DIN EN 60749-13:2003-04 , DIN EN 60749-14:2004-07 , DIN EN 60749-15:2003-10 , DIN EN 60749-19:2003-10 , DIN EN 60749-20:2003-12 , DIN EN 60749-21:2005-06 , DIN EN 60749-22:2003-12 , DIN EN 60749-25:2004-04 , DIN EN 60749-31:2003-12 , DIN EN 60749-32:2003-12 , DIN EN 60749-36:2003-12 .