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Norm [AKTUELL]
DIN EN 60749-1:2003-12
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); Deutsche Fassung EN 60749-1:2003
- Englischer Titel
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-1:2003
- Ausgabedatum
- 2003-12
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- Ausgabedatum
- 2003-12
- Originalsprachen
- Deutsch
- Seiten
- 10
- Hinweis
- Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen DIN 41881-2:1978-06 empfohlen.
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/9517368
Produktinformationen auf dieser Seite:
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ICS
31.080.01
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/9517368
Ersatzvermerk
Dieses Dokument ersetzt DIN EN 60749:2002-09 .
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: - die für alle Prüfverfahren zutreffenden allgemeinen Festlegungen und Messbedingungen wurden entsprechend der Bedingungen in den überarbeiteten oder neu erarbeiteten Teilen der Normenreihe DIN EN 60749 vollständig überarbeitet und in der hier vorliegenden Norm zusammengefasst.
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