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Norm

DIN EN 60749-2:2003-04

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck (IEC 60749-2:2002); Deutsche Fassung EN 60749-2:2002

Produktabbildung - DIN EN 60749-2:2003-04
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2003-04

Änderungsvermerk:

- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 3, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.

Sprachen: Deutsch

Ersatz für:

Dokument: zitiert

Dokument: wird zitiert

 

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