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Norm-Entwurf [ZURÜCKGEZOGEN]
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Das Messverfahren, das in diesem Norm-Entwurf beschrieben wird, kann auch für andere plattenförmige (massive) Supraleiter, einschließlich Tieftemperatursupraleiter, angewendet werden. Mit diesem Norm-Entwurf wird beabsichtigt, jenen Ingenieuren, die auf dem Gebiet der Elektronik und der Supraleitertechnik arbeiten, vorläufig eine geeignete und annehmbare Arbeitsgrundlage zu geben. Das Messverfahren, das in diesem Norm-Entwurf beschrieben wird, basiert auf der vorbereitenden Arbeit von VAMAS (Versailles Project on advanced Materials and Standards) zu den Dünnfilmeigenschaften von Supraleitern. Zuständig ist das DKE/K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
Dokument wurde ersetzt durch DIN EN IEC 61788-7:2021-05; VDE 0390-7:2021-05 .
Gegenüber DIN EN 61788-7 (VDE 0390-7):2007-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Abschnitt 5 "Geräte" wurde geändert; b) Abschnitt 6 "Durchführung der Messungen" wurde geändert; c) drei Messfrequenzen (12 GHz, 18 GHz und 22 GHz) sowie die Maße der Saphirzylinder wurden angepasst; d) der Anhang wurde ausführlicher gehalten, im Wesentlichen durch die Verlagerung des Abschnitts "Theorie und Gleichungen zur Berechnung"; e) Beispiele für technische Änderungen sind: - mit Hinsicht auf stabile Messungen werden Resonatoren vom geschlossenen Typ empfohlen; - zur Festlegung der Größe der Saphirzylinder ist eine uniaxial-anisotrope Charakteristik der Saphirzylinder berücksichtigt worden; - die empfohlenen Messfrequenzen 18 GHz und 22 GHz wurden zu den in EN 61788-7:2002 beschriebenen 12 GHz hinzugefügt.