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ASTM F 76:2008
Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes und des Hall-Koeffizienten und der Hall-Mobilität von Einkristall-Halbleitern
- Englischer Titel
- Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors
- Ausgabedatum
- 2008 reapproved: 2016
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 14
- Ausgabedatum
- 2008 reapproved: 2016
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 14
- DOI
- https://dx.doi.org/10.1520/F0076-08R16E01
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ICS
29.045
DOI
https://dx.doi.org/10.1520/F0076-08R16E01
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