DIN 50431:1980-09

Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Einkristallen aus Silicium oder Germanium mit dem Vier-Sonden-Gleichstrom-Verfahren bei linearer Anordnung der Sonden

Englischer Titel: Testing of semi-conducting inorganic materials; measurement of the electrical resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four-point-probe direct current method with collinear four probe array
Ausgabedatum: 1980-09
Originalsprachen: Deutsch
Seiten: 5

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch DIN 50431:1988-05 .

Normen mitgestalten

Lade Empfehlungen...