Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Donnerstag von 08:00 bis 16:00 Uhr

Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

Beuth Kundenservice
Telefon +49 30 2601-1331
Fax +49 30 2601-1260

Norm [AKTUELL]

DIN 50989-4:2022-09

Ellipsometrie - Teil 4: Modell Semi-transparente Einfachschicht; Text Deutsch und Englisch

Englischer Titel
Ellipsometry - Part 4: Semi-transparent single layer model; Text in German and English
Ausgabedatum
2022-09
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
63

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 140,50 EUR inkl. MwSt.

ab 131,31 EUR exkl. MwSt.

Kauf- und Sprachoptionen

PDF-Download
  • 140,50 EUR

Versand (3-5 Werktage)
  • 169,70 EUR

Normen-Ticker 1
1

Erfahren Sie mehr über den Normen-Ticker

Ausgabedatum
2022-09
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
63
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3362106

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Einführungsbeitrag

Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-01-61 AA „Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme“ des DIN-Normenausschusses Materialprüfung (NMP) erarbeitet. Dieses Dokument legt mittels ellipsometrischer Messungen und deren Auswertung das Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke d einer semi-transparenten Schicht sowie der optischen (Brechungsindex n und Extinktionskoeffizient k) beziehungsweise dielektrischen (Realteil ε<(index)1> und Imaginärteil ε<(index)2>) Konstanten/Funktionen auf Basis des Modells Semi-transparente Einfachschicht fest.

Inhaltsverzeichnis
ICS
19.100
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3362106

Normen mitgestalten

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...